Authors: Pim Rozendal, Paul van der Leest, Elise M. van der Logt, Naomi Rifaela, Inge Platteel, Frank J. Scherpen, Harry J. Groen, Léon C. van Kempen, Ed M. Schuuring
Published: 2024-03-22
DOI: 10.1158/1538-7445.am2024-1299
Source: Full article
Abstract