Authors: J. de Ruiter, V. R. M. Benning, S. Yang, B. J. den Hartigh, H. Wang, P. T. Prins, J. M. Dorresteijn, J. C. L. Janssens, G. Manna, A. V. Petukhov, B. M. Weckhuysen, F. T. Rabouw, W. van der Stam
Published: 2025-01-03
DOI: 10.1038/s41467-024-55742-5
Source: Full article
No abstract found.