Authors: E.P. D. Verheij, S. N. Van Munster, C. Cotton, Ö. Ozdemir, E. Toes-Zoutendijk, E. Nieuwenhuis, I. Lansdorp-Vogelaar, B.L.A. M. Weusten, L. Alvarez Herrero, A. Alkhalaf, B. Schenk, E. J. Schoon, W. L. Curvers, A. D. Koch, P.J. F. De Jonge, T. Tang, W. B. Nagengast, J. Westerhof, M.H.M. G. Houben, N. Shaheen, J.J.G.H. M. Bergman, R. E. Pouw
Published: 2023-11-09
Source: Full article
No abstract found.